Белоус А.И. Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем / Белоус А.И., Емельянов А.В., Чигирь Г.Г. - Минск : Интегралполиграф, 2008. - 207 с. : ил.
621.3 М33
Матвеенко И.П. Электроника и основы микропроцессорной техники : учебно-методическое пособие по выполнению курсовой работы / Матвеенко И.П. ; Белорусский государственный аграрный технический университет. - Минск : БГАТУ, 2009. - 53 с. : ил.
621.3 П27
Переходные процессы в электроэнергетических системах : [учебник для вузов по специальностям "Электрические станции", "Электроснабжение" направления подготовки "Электроэнергетика"] / Крючков И.П., Старшинов В.А., Гусев Ю.П., Пираторов М.В. ; под ред. Крючкова И.П. - 2-е изд., стер. - Москва : Издательский дом МЭИ, 2009. - 414 с. : ил
621.3 Ш76
Шнеерсон Э.М. Цифровая релейная защита / Шнеерсон Э.М. - Москва : Энергоатомиздат, 2007. - 548 с. : ил
Метрология
